Advertisement
Guest User

Untitled

a guest
Jan 22nd, 2018
651
0
Never
Not a member of Pastebin yet? Sign Up, it unlocks many cool features!
text 9.06 KB | None | 0 0
  1. 17.01.2018r.
  2.  
  3. Układy Elektroniczne i Technika Pomiarowa
  4. Wykład 8.
  5.  
  6. --------------------------------
  7.  
  8. Sprawdzian za tydzień o 12:00
  9. W sali WA-12B
  10.  
  11. Wyniki będą w czwartek
  12.  
  13. Pamięci typu ROM
  14. 1. Klasyfikacja pamięci typu ROM
  15. 2. Ogólna organizacja pamięci typu ROM
  16. 3. Mask ROM
  17. 4. PROM
  18. 5. EPROM
  19. 6. EEPROM
  20. (...)
  21.  
  22. Klasyfikacja pamięci typu ROM
  23. Ogólna klasyfikacja pamięci
  24. Pamięci ulotne
  25. - Static Random Access Memory (SRAM)
  26. - Dynamic Random Access Memory (DRAM)
  27.  
  28. Pamięci nie ulotne
  29. - Mask programmed ROM
  30. - Programmable Read-Only Memory (PROM)
  31. - Electrically Programmable ROM (EPROM)
  32. - Electrically Erasable Prom (EEPROM)
  33. - Flash EPROM
  34.  
  35. MaskROM
  36. Zasada działania:
  37. 1. linie kolumn są ładowane do poziomu wysokiego
  38. 2. linia wiersza -> poziom wysoki i otwierane są tranzystory typu "n"
  39. następuje rozładowanie tych linii kolumn, gdzie są tranzystory
  40.  
  41. Pamięci typu Mask ROM
  42. Wykonywane w fabrykach - pełny proces
  43. Zastosowania np:
  44. a) kody startowe wczesnych mikrokomputerów - "bootstrap"
  45. b) przechowywanie oprogramowanie gier wideo
  46. c) kroje czcionek drukarskich dla drukarek
  47. d) dane dźwiękowe w elektronicznych instrumentach muzycznych
  48. e) oprogramowanie firmowe testujące poprawność działania sprzętu
  49. Lata 60-te. Ogólnie opłacalne w długich seriach, obecnie dość rzadko stosowane
  50.  
  51. Programmable Read-Only Memory - PROM
  52. Pomysł z roku 1956 - Wen Tsing Chow, zastosowania wojskowe - magazynowanie współrzędnych celów dla głowic rakiet ATLAS. Programowanie w specjalnych programatorach
  53. poprzez przepalanie cienkowarstwowych bezpieczników (12 - 21V)
  54. Może być programowany tylko raz (...)
  55. (...)
  56.  
  57. Struktura tranzystora pamięci typu FLASH EPROM
  58. Aby zaprogramować tranzystor wstrzykuje się elektrony z inwersyjnej warstwy kanału do pływającej bramki poprzez warstwę tunelującego tlenku krzemu
  59.  
  60. Programowanie poprzez wstrzyknięcie gorących elektronów (hot carrier injection)
  61. Elektrony są przyspieszane w poprzecznie przekładanym polu elektrycznym i w punkcie A posiadają odpowiednią energię w celu pokonania bariery potencjału
  62.  
  63. Programowanie poprzez wykorzystanie zjawiska tunelowania Fowler-Nordheima
  64. W tym przypadku przy przyłożeniu dostatecznie dużego napięcia na bramkę tranzystora następuje wstrzyknięcie elektronóœ z inwersyjnej warstwy kanału do pływającej
  65. bramki.
  66. tunelowania Fowler-Nordheima - przejście przez barierę potencjału w obecności silnego pola elektromagnetycznego
  67.  
  68. Czyszczenie pamięci
  69. Przy przyłożeniu odpowiednio dużego napięcia ujemnego na elektrodę bramki elektrony są w stanie pokonać barierę potencjału tlenku i przejść do podłoża
  70.  
  71. EPROM
  72. Programowanie poprzez wstrzyknięcie gorących elektronów
  73. Skasowanie przez wystawienie na działanie światła ultrafioletowego (długość fali: 253,7 nm).
  74. Cała pamięć ulega wyczyszczeniu!
  75. Większość pamięci EPROM można rozpozznać po przeźroczystym okienku ze szkła kwarcowego na górze układu, przez które widać podłoże krzemowe i które umożliwia dostęp
  76. światła ultrafioletowego w przypadku skasowania.
  77. Pamięć EPROM przechowuje dane przez około dziesięć do dwudziestu lat. Pozwala na około tysiąc cykli zapisu i dowolną liczbę cykli odczytu.
  78. Aby ochronić pamięć przed przypadkowym skasowaniem okienko musi być zawsze zasłonięte.
  79. W starszych płytach głównych pamięć EPROM wykorzystywana była do zapisu BIOS-u płyty.
  80. Okienko kości EPROM zakrywane było etykietką z nazwą producenta BIOS-u, numerem wersji i notką o prawach autorskich.
  81.  
  82. //Szafir i kwarc przepuszczają światło ultrafioletowe
  83.  
  84. OTP (One Time Programmable) EPROM
  85. W wielu wypadkach raz zaprogramowana kostka jest montowana w układzie i już nie podlega przeprogramowaniu. Można wówczas zmniejszyć cenę pojedynczej kostki i dać zamiast
  86. drogiej obudowy ceramicznej - zawierającej okienko kwarcowe - tanią obudowę plastikową.
  87. OTP (One Time Programmable) EPROM, ten sam programator
  88. Pamięci typu EPROM zostały wynalezione przez inżyniera Dova Frohmana w 1971r. (szef oddzialu firmy INTEL w Izraelu).
  89.  
  90. Pamięci typu EEPROM: Electrically Erasable PROM
  91. Wynalezione przez greka Georga Perlegosa pracującego dla firmy INTEL w roku 1983. Użył on na tyle cienką warstwę tlenku podbramkowego, że wymazanie zawartości nie
  92. wymagało silnej dawki promieniowania UV.
  93. Programowalne dzięki wykorzystaniu zjawiska tunelowania Fowler-Nordheima.
  94. Zalety i wady:
  95. - może być czyszczona na drodze elektrycznej
  96. - możliwe programowanie w systemie
  97. - można łątwo wyczyścić pojedynczą komórką i ją od nowa zapisać
  98. - zapis jest bardzo wolny (msek)
  99. - gwarantowana ilość cykli zapisu około 100 k //zapamiętać
  100. - gwarantowany czas przechowywania informacji około 10 lat //zapamiętać
  101.  
  102. //zapis jest wolny, w milisekundach na pojedynczych tranzystorach
  103.  
  104. Powielacz napięcia - (charge pump)
  105. Kluczowym układem elektornicznym pamięci EEPROM oraz Flash jest powielacz napięcia (charge pump)
  106. Wczesne pamięci (...)
  107. (...)
  108.  
  109. Ze względu na warunki, urządzenia zasilane napięciem 5V muszą zawierać powielacz napięcia
  110. //Pendrive zawiera powielacz napięcia - może być na sprawdzianie
  111.  
  112. Pamięci typu Flash EEPROM
  113. Próba przezwyciężenia wolnego zapisu pamięci EEPROM
  114. - wymazywanie zawartości blokami (często 512x8), a nie pojedynczymi bitami
  115. - zapis blokami => szybciej zapisujemy
  116. - dobre w sytuacjach gdzie zapisujemy (wymieniamy) duże porce danych
  117. - gwarantowana ilość cykli zapisu około 1 - 10 k (?)
  118. - gwarantowany czas przechowywania informacji około 10 lat
  119.  
  120. Sposoby czyszczenia pamięci (organizacja) (granularity)
  121.  
  122. Pamięci typu Flash EEPROM
  123. Dwa główne rozwiązania matryc pamięci:
  124. - typu NOR
  125. - typu NAND
  126. Ponadto
  127. W tradycyjnych pamięciach w jednej komórce przechowuje się 1 bit informacji single-level cell (SLC) devices.
  128. Obecnie budowane są również układy mogące przechowywać w jednej komórce kilka bitów multi-level cell (MLC) devices
  129. Pamięci typu Flash (zarówno typu NOR jak i NAND) zostały wynalezione przez japończyka Dr. Fujio Masuoka pracującego w firmie Toshiba w roku 1984.
  130. Zostały (NOR) wprowadzone do masowej produkcji przez firmę INTEL 1988 roku.
  131.  
  132. //Na dzień dzisiejszy istnieją komórki przechowujące 3 bity
  133.  
  134. NOR Flash
  135. Aby zwiększyć upakowanie tranzystory łączy się parami
  136. Klasyczny układ pozostaje bez zmian
  137.  
  138. Pamięci typu NOR
  139. Trzy sposoby czyszczenia pływającej bramki
  140. High Voltage Source Erase
  141. Negative Gate Source Erase
  142. Channel Erase
  143. Większość pamięci typu NOR jest programowane hybrydowo - zapisywana dzięki wykorzystaniu zjawiska wstrzyknięcia gorących nośników a czyszczona poprzez wykorzystanie
  144. zjawiska tunelowania Fowler-Norheima
  145.  
  146. NAND Flash
  147. 1) Linia bitu jest ładowana do poziomu wysokiego
  148. 2) Po wyborze linii szergowej tranzystorów:
  149. a) linia bitu zostaje rozładowana do "0" jeśli wszystkie tranzystory przewodzą
  150. b) linia bitu pozostaje nierozładowana ("1"), jeśli w układzie jest rozwarcie (jeden tranzystor nie przewodzi)
  151.  
  152. Odczyt:
  153. Wszystkie linie słowa (bez badanej linii) są podciągane do napięcia powyżej napięcia progowego V(T) zaprogramowanej komórki (tranzystory przewodzą).
  154. Badana linia słowa wybranej komórki jest podciągana do napięcia nieco wyższego niż napięcie progowe V(T) czystej komórki.
  155. Grupa szeregowo połączonych komórek rozładuje linię bitu, jeśli wybrana komórka nie była zaprogramowana.
  156.  
  157. Pamięcii typu NAND
  158. Program
  159. - Use F-N Tunneling
  160. - Channel Inversion
  161. Erase
  162. - Use F-N Tunneling
  163. - Channel Accumulation
  164.  
  165. //2.5 raza mniej miejsca zajmuje NAND niż NOR przy danych tego samego rozmiaru
  166.  
  167. Zastosowania pamięci NOR flash
  168. NOR Market = Code First
  169. Code Storage BIOS
  170. Routers and Switches
  171. Code & Data
  172. Przechowywanie małych plików danych (...)
  173.  
  174. Zastosowania pamięci NAND flash
  175. NAND Market = Data First
  176. Voice
  177. MP3
  178. Digital Imaging
  179. Solid State Disk
  180. GPS systems
  181. Pendrive
  182. Przechowywanie większych plików (...)
  183.  
  184. (...)
  185.  
  186. Rozwiązania technologiczne firma Micron 2017
  187. SLC (Single-Level Cell) NAND - zachowuje 1 bit w jednej komórce, wykonywane w technologii 25 nm, dobra jakość przechowywania i odczytu bitów
  188. gęstości 128Mb - 512Gb, organizacja x1, x8, x16, napięcia 1.8V, 3.0V, 3.3V
  189. MLC(Multi-Level Cell) NAND - przechowuje 2 bity na komórkę, popularne rozwiązanie dla szeregu urządzeń, takich jak dyski SSD, smartfony i inne tej klasy bezprzewodowe
  190. urządzenia
  191. 16Gb - 1Tb, organizacja x8, napięcie 3.3V
  192. TLC (Triple-Level Cell) NAND - wysoka gęstość zapisu informacji, ale jakość niższa, zastosowania gorszej jakości, urządzenia tańsze od poprzedników
  193. (...)
  194. Serial NAND
  195. Duże podsystemy pamięci, wysokiej jakości i relatywnie niski pobór mocy zastosowania inteligentne i interaktywne zabawki, gra;
  196. Web-enabled printers and peripherials (...)
  197. (...)
  198. 3D NAND
  199. Stakowanie szeregu planarnych struktur w jeden układ
  200. Laptopy, serwery, największe pojemności
  201. 256Gb - 6Tb, organizacja x8, napięcia 1.2V, 1.8V
  202.  
  203. Pamięci NAND flash
  204. 3D NAND
  205. - highest NAND capacities
  206. - highest read/write bandwidth and I/O speeds
  207. - reduced power consumption (...)
  208. TLC NAND
  209. (...)
  210. MLC NAND
  211. (...)
  212. SLC NAND
  213. (...)
Advertisement
Add Comment
Please, Sign In to add comment
Advertisement