Advertisement
Guest User

Untitled

a guest
Apr 20th, 2018
65
0
Never
Not a member of Pastebin yet? Sign Up, it unlocks many cool features!
text 5.16 KB | None | 0 0
  1. Ниже показано, как может выглядеть реальная рентгенограмма исследуемого образца состоящего из фаз кварца, кристобалита и стекла. Пики малой интенсивности теряются в фоне аморфного стекла, что на самом деле, не имеет значения. Подпись Cu отвечает за материал анода. Оптимальное напряжение на трубке рентгеновского излучателя U составляет 5-6 потенциалов возбуждения анода U0 (белое излучение), в этом случае наблюдается тот же порядок характеристического излучения образца (сравнимы интенсивность фона и пиков), а также достаточно высок КПД трубки. Это объясняет пропорциональность интенсивности U^2 для белого и (U-U0)^2 для характеристического излучения.
  2. Информация размытия границы дебаеграммы
  3.  
  4. Подобная картина (рисунок слева, красная кривая) может означать:
  5. Наличие нанокристаллической фазы.
  6. Микротрещины и другие дефекты.
  7. Негомогенность состава твердых растворов и расплавов.
  8. Синяя кривая характеризует крупную фазу.
  9.  
  10.  
  11.  
  12.  
  13. Возможность рассчета параметров кристаллической решетки
  14.  
  15. Данные угловой координаты пика позволяют вычислить межплоскостное расстояние рассеивания рент. излучения структуры кристалла dhkl.
  16.  
  17.  
  18. Из уравнения Брэгга-Вульфа:
  19.  
  20. находится период решетки кристалла, используя индексы Миллера h, k, l можно определить параметры решетки (a, b, c...):
  21.  
  22.  
  23.  
  24.  
  25. Иначе, не используя уравнение Брэгга-Вульфа, можно найти период решетки конкретного кристалла в таблице Гиллера.
  26.  
  27.  
  28.  
  29. Данные ширины пика позволяют вычислить размер нанокристаллической фазы:
  30.  
  31.  
  32.  
  33.  
  34.  
  35.  
  36.  
  37.  
  38.  
  39. Возможность определения массового состава исследуемого образца
  40.  
  41.  
  42. Интенсивность пиков химического элемента сильно зависит от его порядкого номера, поэтому, невозможно определить массовый состав кристаллита неоднородного хим. состава по соотношению между интенсивнотями фаз, однако, используя таблицы или следующую приближенную зависимость для коэффицента поглощения рент. излучения атомами элемента:
  43.  
  44. можно откалибровать расчеты и получить желаемый результат.
  45.  
  46.  
  47. На рисунке ниже показан пример определения массового состава (порошка) кристаллита рутила, гематита и анатаза. Интенсивности основных пиков (металлические компоненты) рутила и гематита, анатаза и гематита соотносятся примерно в 1.6 раза сильнее, чем исходя из массового состава. Порядковые номера железа и титана ,соотвественно, 28 и 24, куб их отношения как раз примерно и равен калибровочному коэффициенту.
  48.  
  49.  
  50.  
  51.  
  52.  
  53.  
  54.  
  55.  
  56.  
  57.  
  58.  
  59.  
  60.  
  61.  
  62.  
  63.  
  64.  
  65.  
  66.  
  67.  
  68.  
  69.  
  70. Теперь перейдем к сути реализации рентгенофазового метода порошка.
  71.  
  72. Определение угла отражения θ различается для разных способов съемки. Наиболее часто применяется съемка в цилиндрических камерах типа РКД-57 и РКУ, по крайней мере так было, а метод дешевый, простой и эффективный.
  73.  
  74.  
  75. Процесс съемки образца под θ обеспечиваются постоянным вращением образца, детектора (излучателя), рисунок слева, детектор обычно представляет собой пропорциональный или сцинтиляционный счетчик.
Advertisement
Add Comment
Please, Sign In to add comment
Advertisement