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- \documentclass{beamer}
- \usepackage[ngerman]{babel} %Umlaute, neue deutsche Rechtschreibung
- \usepackage[latin1,utf8]{inputenc} %Kodierung festlegen, für UTF-8 Unterstützung entsprechend \usepackage[utf8x]{inputenc}
- \usepackage{amsmath,amsfonts,amssymb} %math. Symbole und Umgebungen
- \usepackage{graphicx} %bilder einbinden
- \usepackage{lmodern}
- \usepackage[T1,OT1]{fontenc}
- \usepackage{mathrsfs}
- \usepackage[bbgreekl]{mathbbol}
- \usepackage{amsxtra}
- \usetheme{Antibes}
- \usecolortheme{beaver}
- \usefonttheme{default}
- \useinnertheme{circles}
- \useoutertheme{tree}
- \setbeamercovered{transparent} %halbtransparente overlays
- \setbeamertemplate{footline}[frame number] %seitenzahlen in fußzeile
- \beamertemplatenavigationsymbolsempty %abschalten der navigationsleiste unten
- %metainformationen
- \title[Ellipsometrie]{Ellipsometrie} %Titel des Vortrages
- %\subtitle[Kurzform]{Untertitel} %Untertitel
- \author[K.F. Lüskow]{Karl Felix Lüskow} %Autor festlegen
- %\institute[IfP -- EMAU Greifswald]{Institut für Physik\\ Ernst-Moritz-Arndt Universit\"at Greifswald} %Angabe des Institutes
- \date[\date{today}]{\date{today}} %Datum der Präsentation, alternativ kann mittels \date{\today} auch das aktuelle Datum eingetragen werden.
- %\logo{\pgfimage[width=2cm,height=2cm]{EMAU_logo_neu}} %Die Datei hulogo.pdf (bzw. hulogo.png, hulogo.jpg, hulogo.mps bei Verwendung von pdftex als Backend) als Logo auf allen Folien, hier mithilfe des Paketes pgf.
- \titlegraphic{\includegraphics[width=3.5cm]{images/EMAU_logo_neu}}
- %Die Datei hulogo.pdf (bzw. analog wie bei \logo auch entsprechendes Format) als Logo nur auf der Titelseite unter Verwendung des Paketes graphicx.
- \begin{document}
- \begin{frame}
- \titlepage
- \end{frame}
- \begin{frame}
- \frametitle{Inhaltsverzeichnis}
- \tableofcontents
- \end{frame}
- \section{Allgemeines}
- \begin{frame}{Allgemeines}
- \begin{block} {Was ist Ellipsometrie?}
- \begin{itemize}
- \item Bestimmung von optischen Eigenschaften durch Änderung des Polarisationszustandes des Messlichtes
- \end{itemize}
- \end{block}
- \begin{block}{Was misst man mit der Ellipsometrie?}
- \begin{itemize}
- \item elektrische und strukturelle Beschaffenheiten der Probe
- \item Real- und Imaginärteil der komplexen dielektrischen Funktion (komplexe Permittivität, oder Real- und Imaginärteil der komplexen Brechzahl)
- \item Schichtdicke dünner Schichten
- \end{itemize}
- \end{block}
- \end{frame}
- \subsection{Historischer Abriss}
- \begin{frame}{Historie}
- \begin{columns}
- \column{0.2\textwidth}
- \includegraphics[width=\textwidth]{images/Drude}
- \column{0.8\textwidth}
- \begin{itemize}
- \item 1883: deutscher Physiker Paul Drude zeitabhängige Änderung in der Phasenverschiebung zwischen s- und p-Komponente von polarisiertem Licht nach der Reflexion an frisch gespaltenem Sb2S3 und Lagerung an Luft
- \item 1887: Drude die theoretischen Grundlagen mit zwei Parametern (Gleichungssystem für s- und p- Polarisation bei einer Wellenlänge und einem Einfallswinkel) gelegt. Mit dem Aufkommen der ersten kleineren Computer in den 60er Jahren erlangte die Methode eine größere Bedeutung
- \item 1945: Alexander Rother prägt Name Ellipsometrie in Zeitschrift Review of Scientific Instruments, da allgemeiner Polarisationszustand von EM Wellen elliptisch ist
- \end{itemize}
- \end{columns}
- \end{frame}
- \end{document}
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